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儀器列表/多功能高解折場發射搶掃瞄式電子顯微鏡

多功能高解折場發射搶掃瞄式電子顯微鏡

採購年度:113年11月

管理單位:工學院材料系

儀器功能:先進材料之顯微組織觀察、成份分析、晶粒結構鑑定。

服務項目


1.FEG-SEM:材料之顯微結構觀察。2.能量分散光譜儀EDS:試片元素之定性、半定量、面及線掃瞄分析。3背散射電子繞射偵測儀EBSD:相鑑定、晶體取向差異、次晶粒粒徑量測、micro texture、材料晶粒間關係之研究。CL偵測器:

收費標準


*如無貴儀帳戶,請填具本處帳號代碼 相關資料,另案簽文送出辦理建置事宜

申請辦法


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儀器建置中,運作時並申請帳號

其他資訊

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    工綜館138室

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    1. 儀器建置中:多功能高解折場發射搶掃瞄式電子顯微鏡FEG-SEM SU7000、因實驗室138建置延遲未完成,儀器預計6月底到校。