JEOL-CsJEOL2100 + Cs-corrector
機台規格及特色:本台TEM為200KV Field Emission Gun + Cs-corrector 包含了XEDS,EELS以及STEM功能,最主要特色在於加裝了球象差修正儀後擁有極高的空間解析度 Spatial (Probe) Resolution≦0.09nm
代表成果
左圖是利用高空間解析度Cs-STEM配合精準的EELS光譜,建構出的EELS-Mapping 影像。明確標示出在原子尺度之下不同元素成分的排列與分佈,圖中可辨別出Nd,Sr,Ti,Mn等不同原子所佔據的位置,雖然此技術為全世界顯微學研究中相對高端,但是在本平台已經是非常成熟。
右圖充分利用Cs-STEM高解析度特色,直接觀察出原子結構極微小的扭曲,圖中黃色區域結構來自於左右不同domain的boundary,而左右的domain 差異在於不同的polarization,分析細微原子結構可以看到不同的原子扭曲方向產生不同的polarization 方向。由原子結構精準的觀察讓我們對材料物理性質或是巨觀現象能有更精準的判斷與解釋。