國立臺灣大學 重點技術平台

關於電子顯微學重點技術平台

電子顯微學重點技術平台主要服務特殊難之研究項目,有別於其他單位僅提供基本影像數據,我們針對不同客戶需求給予TEM的實驗設計安排,操作與專業分析,特殊客製化服務目標在於達到卓越的研究成果。此外,除了顯微技術的服務,我們也提供各種校內外技術支援,以及開設多種訓練課程。達到提升整體對電子顯微鏡能力的了解以及技術的精進,使各單位的顯微鏡亦能物盡其用。

服務項目

A級-進階研究

JEOL-2100F+Cs

B級-進階服務

FEI-Tecnai

C級-基本服務

JEOL-2100F
JEOL-2000
TECNAI G2
技術分析服務項目 A級JEOL-2100F+Cs B級FEI-Tecnai C級JEOL-2000,2100F&TECNAI G2
晶體繞射結構分析(SAED)
高解析影像(HRTEM) (2Å) (2Å) (1Å)
掃描原子影像(HAADF) (2Å) (2Å)
明暗場影像(DF and BF)
樣品降溫設備(Low temperature)
電子能量單光儀(Monochromator; 能量解析度0.15ev)
成分分析(EDX)
能量損失能譜(EELS)
3D影像建構(tomography)
生物試片影像(120kV)
球面像差修正儀(Cs-corrector;高空間解析1Å) (1Å)

電顯重點技術平台申請流程

JEOL-2100F+Cs、FEI-TECNAI、JEOL-2000FX

運作小組會議申請案分級
加入會員繳交會員費 收費標準

科技部策略合作設施申請流程

JEOL-2100F

運作小組會議申請案分級
送樣代測/現場實驗
實驗完成結帳及繳費

相關網址:https://www.hic.ch.ntu.edu.tw/Application.html