關於電子顯微學重點技術平台
電子顯微學重點技術平台主要服務特殊難之研究項目，有別於其他單位僅提供基本影像數據，我們針對不同客戶需求給予TEM的實驗設計安排，操作與專業分析，特殊客製化服務目標在於達到卓越的研究成果。此外，除了顯微技術的服務，我們也提供各種校內外技術支援，以及開設多種訓練課程。達到提升整體對電子顯微鏡能力的了解以及技術的精進，使各單位的顯微鏡亦能物盡其用。
服務項目
A級-進階研究
JEOL-2100F+Cs(材料物理)
TFS-Glacios+VPP(生醫材料)
Leica EM-ICE(生醫材料)
B級-進階服務
FEI-Tecnai(材料物理)
JEOL-F200(材料物理)
| 技術分析服務項目(材料物理) | A級JEOL-2100F+Cs | B級FEI-Tecnai | B級JEOL-F200 |
|---|---|---|---|
| 晶體繞射結構分析(SAED) | |||
| 高解析影像(HRTEM) | |||
| 掃描原子影像(HAADF) | |||
| 明暗場影像(DF and BF) | |||
| 樣品變溫載台設備 | |||
| 電子能量單光儀(Monochromator; 能量解析度0.18ev） | |||
| 元素分析(STEM-EDX, STEM-EELS) | |||
| 球面像差修正儀(Cs-corrector; 高空間解析1Å) | |||
| 低能量模式(80KV) | |||
| 4D-STEM |
| 技術分析服務項目(生醫材料) | A級Glacios+VPP | A級Leica EM-ICE+ASF2+UC7 |
|---|---|---|
| 單粒子結構分析 | (2.5Å) | |
| 相位版高對比影像結構分析 | ||
| 冷凍斷層掃描 | ||
| 冷凍樣品切片 |
電顯重點技術平台申請流程(材料物理)
電顯重點技術平台申請流程(生醫材料)
TFS-Glacios+VPP、Leica EM-ICE
科技部策略合作設施申請流程
JEOL-2100F