參考收費標準
A級(進階研究)：
JEOL-2100F+Cs
B級(進階服務)：
FEI-TECNAI
C級(基本服務)：
JEOL-2000FX
JEOL-2000
TECNAI G2
收費採會員計點制
申請書送出且經運作小組審議通過後，提出該申請案之PI需繳交5萬元新台幣(50點)會員費。同一申請書可有一名以上之使用者，惟需於該案提出申請時即具體載明，申請書審核通過後不再提供追加人數。
A級(進階研究)：
不開放自行操作，由實驗室代為操作，每次10點。
B級(進階服務)：
通過訓練後可自行操作，每次6點。
C級(基本服務)：
通過訓練後可自行操作，每次2點。
*上述收費標準適用於學術界，工業界收費以兩倍計價。
| 電子顯微鏡型號 | 分析項目 | 樣品製備 | 操作模式 | 計費方式 |
|---|---|---|---|---|
| JEOL-2100F+ 球像差修正掃描穿透式電顯 |
Cs-STEM,EELS,EDS | 自行製備 委託單位費用另計 | 平台代為操作 | 不開放自行操作，由實驗室代為操作，每次使用計費10點。 |
| Tecnai-F20+ 單光器分析式電顯 |
HRTEM,SAED,STEM EFTEM,EELS,EDS | 自行製備 委託單位費用另計 | 自行製備 委託單位費用另計 | 通過訓練後可自行操作，每次6點。 |
| JEOL-2000FX傳統型電顯 | TEM,SAED | 自行製備 委託單位費用另計 | 自行製備 委託單位費用另計 | 通過訓練後可自行操作，每次2點。 |
| JEOL-2100F傳統型電顯 | HRTEM,SAED,EDS | 委託單位自行製備 | 平台代為操作 | 詳見台大貴儀中心收費標準 |
從點數中扣取
設備訓練課程為期五天，收費點數10點，五天課程內容包含授課、訓練和測驗。設備訓練課程分為B級以及C級，兩者收費相同。通過訓練結訓測驗後即可自行操作B級與C級設備。
從點數中扣取
首次諮詢免費，內容包含提供是否需要使用TEM之必要性，以及預期可達到之成果判斷。此後每次諮詢需點數1點。 諮詢時請先備妥power point...等,能幫助暸解服務內容的文件。
新申請書提交
會員點數不足十點時，平台會提前告知，請貴會員考慮是否需要繼續使用，若需繼續使用，則需提出新申請書，載明上一申請書之相關代表性結果，並敘明本新申請書之延續必要，運作小組審議通過後即刻生效。如有計劃繼續使用之會員請盡快辦理續約，避免點數用盡無法使用。如需增加使用者之人數，請在此時提出申請。
樣品製備
課程為期三天
收費點數6點，三天課程包含Plan-view TEM樣品製備以及Cross-section TEM樣品製備。需自備耗材8吋3M鑽石拋光膜(無背膠) : 30µm、6µm、3µm、1µm、0.5µm ； 8吋拋光布。離子打薄PIPS請至材料系登記預約。
樣品機械研磨自備耗材可優惠收費點數2點：
| 委託樣品製備計費方式 | 單片 |
|---|---|
| Plan-view TEM樣品研磨(委託操作) | 11點 |
| Cross-section TEM樣品研磨(委託操作) | 14點 |
| Plan-view TEM樣品研磨(自備耗材)3M鑽石拋光膜 | 9點 |
| Cross-section TEM樣品研磨(自備耗材)3M鑽石拋光膜 | 12點 |