JEOL-2000JEOL-2000
機台規格及特色：本台TEM為200KV 包含了XEDS，EELS以及STEM功能，其最主要特色在於擁有極高的能量解析度Electron Energy Loss Low Magnification mode: 50~1,000 Resolution: 0.25nm Tilt angle: (X-axis) ± 45 ° (Y-axis) ± 30 ° Attachment: Energy Dispersive X-ray (EDX) Spectrometry High-temperature specimen holder (maximum Temp.: 1000 o C) Low-temperature specimen holder (minimum Temp.: liquid helium)
代表成果
JEOL 2000 是一台相當老舊的設備，但其CCD拍照品質佳加上電子束飽和度很高，並且可以高角度旋轉樣品載台（Tilt angle: (X-axis) ± 45°; (Y-axis) ± 30°），這些特性非常適合拍攝如圖中所顯示的Dark-Field（暗場影像），利用明暗場圖片的不同，以及高對比反差的暗場影像，明確表現出不同區域的結構差異性，對於結構拓墣影像有更具體的貢獻，加上特殊holder設計可升降溫提供我們觀察相變的過程與特性，左圖為電荷密度波材料在經歷相變之後所產生出的domain 結構，不同的domain有不同的強度對比，明顯得知此相變出現了對稱性的破壞，才會有相反對比的domain產生，也可以同時由diffraction pattern 反推出對稱性的破壞與什麼軸性有密切關連性。